更新時(shí)間:2024-03-12
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廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
生產(chǎn)地址:陜西西安
品牌 | PULUODY/普洛帝 | 測(cè)量時(shí)間 | 6秒 |
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分辨率 | 95%微米 | 測(cè)量范圍 | 1nm~2000μm(可在納米和微米測(cè)試中選擇相應(yīng)傳感器)微米 |
重現(xiàn)性 | 任意 | 分散方式 | 干濕法分散 |
價(jià)格區(qū)間 | 5萬(wàn)-10萬(wàn) | 儀器種類 | 顆粒圖像分析儀 |
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品,化工,電子 |
激光粒度儀 激光微粒分布儀 乳劑粒度檢測(cè)器全量程激光粒度儀 乳劑粒度分布儀DPC-1512全量程激光粒度儀,采用PULUODY GROUP第七代雙激光窄光檢測(cè)器技術(shù),參照ISO13320、ISO13321等標(biāo)準(zhǔn),根據(jù)光子相關(guān)光譜法、全量程動(dòng)態(tài)光散射等原理生產(chǎn)的全新激光粒度測(cè)試設(shè)備;粒度分析動(dòng)態(tài)范圍寬,重復(fù)性好;智能化程度高,響應(yīng)速度快,測(cè)量精度高,穩(wěn)定性和重復(fù)性好特點(diǎn);整機(jī)可進(jìn)行1nm~2000μm間任意進(jìn)行調(diào)整與測(cè)試,打破常規(guī),定義創(chuàng)新;
激光粒度儀 激光微粒分布儀 乳劑粒度檢測(cè)器一次采樣可支持濕法檢測(cè)和干法檢測(cè);每測(cè)1個(gè)樣品2分鐘內(nèi)完成,結(jié)果由電腦自動(dòng)記錄保存、查看打印方便。全中文/英文操作菜單,簡(jiǎn)單實(shí)用;計(jì)量機(jī)構(gòu)可進(jìn)行終身第三方計(jì)量校準(zhǔn)。激光器:第七代雙激光窄光檢測(cè)器 大值(M) 4mW He-Ne, 630nm測(cè)量范圍:0.01-3000微米全測(cè)量檢測(cè)無(wú)需更換部件測(cè)量池:流動(dòng)測(cè)試或靜態(tài)測(cè)試,雙測(cè)試法設(shè)計(jì)根據(jù)所需任意更換工藝自動(dòng)化:進(jìn)水、測(cè)量、排水、清洗、超聲分散等可*自動(dòng)進(jìn)行,可執(zhí)行手動(dòng)測(cè)量;
儀器介紹:
樣品在測(cè)試池內(nèi)流動(dòng)的時(shí)間短,避免了樣品分散后的分層和重新團(tuán)聚。清洗操作簡(jiǎn)單,可實(shí)現(xiàn)一體化功能。采用一次成型工藝,結(jié)構(gòu)緊湊合理,集成測(cè)量單元和取樣單元一體化。外形美觀大方,使用維護(hù)方便;降低干擾,電氣與液路相分離,使儀器的電氣穩(wěn)定性更優(yōu)。采用串行數(shù)據(jù)傳輸方式,可以方便組成粒度測(cè)試系統(tǒng)。測(cè)試軟件兼容微軟、蘋果、安卓等系統(tǒng),界面友好、操作簡(jiǎn)便。可實(shí)現(xiàn)一鍵“自動(dòng)測(cè)試”快捷鍵功能。可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)完成測(cè)量參數(shù)選定、對(duì)中、背景測(cè)量、濃度調(diào)整、信號(hào)采樣、數(shù)據(jù)分析、給出報(bào)告、系統(tǒng)清洗等功能。具有中、英文20種不同的報(bào)告單格式,內(nèi)容包括累計(jì)粒度分布數(shù)據(jù)與曲線、區(qū)間粒度分布數(shù)據(jù)與直方圖、典型粒徑值如D3、D10、D25、D50、D75、D80、D90、D97、D100等。
納米測(cè)試:
所有納米材料研究、生產(chǎn)與使用等行業(yè)干粉、乳液的粒度分布測(cè)試。微米測(cè)試:各種行業(yè)干粉、乳液等的粒度分布測(cè)試。
通用測(cè)試:
化工材料、電子材料、電池材料、造紙、冶金、陶瓷、建材、水煤漿、化妝品、磨料、醫(yī)藥、涂料、水泥、食品、農(nóng)藥、碳酸鈣、滑石粉、高嶺土、金剛石、氧化鋁、稀土、催化劑、硅灰石、電氣石、云母、重晶石、鋁粉、鐵粉、鎂粉、鉬粉、銅粉、鋅粉、發(fā)泡劑、石墨、顏料等各種行業(yè)干粉、乳液等的粒度分布測(cè)試。
技術(shù)參數(shù):
測(cè)試范圍:1nm~2000μm(可在納米和微米測(cè)試中選擇相應(yīng)傳感器)
納米測(cè)試:測(cè)試1nm~10000nm;5nm~10000nm;(二選一)
微米測(cè)試:測(cè)試0.02μm~2000μm;0.05μm~2000μm;0.1μm~3000μm;(三選一)
分段量程:選擇納米段、微米段或全量程段測(cè)試。
檢 測(cè) 器:第七代雙激光窄光檢測(cè)器,穩(wěn)定性好,使用壽命長(zhǎng)。
光路設(shè)計(jì):符合ISO13320、ISO13321等標(biāo)準(zhǔn)原理
測(cè)試精度:微粉級(jí)D50測(cè)試重復(fù)性誤差≤±1% (國(guó)家標(biāo)樣)。
進(jìn)樣系統(tǒng):配有微量靜態(tài)樣品池、循環(huán)進(jìn)樣池2種,可選擇使用。
測(cè)試軟件:可在Windows系統(tǒng)下運(yùn)行(中英文版二選一或二選二)。
測(cè)試結(jié)果:Dx、平均粒徑和比表面積等數(shù)據(jù)及粒度分布和曲線圖。
結(jié)果輸出:顯示、保存和打印,也可以轉(zhuǎn)換為圖像文件和文本文件。
工作電源:AC220V ±10% 50Hz 功率:300W
環(huán)境要求:使用環(huán)境應(yīng)清潔,溫度:0-40℃
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